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Couloscope CMS2 STEP多层镍电位差测厚仪 COULOSCOPE CMS2 STEP库仑法测量镀层厚度和多层镍电位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18测量印刷线路板上剩余纯锡的厚度，库仑法是一种简单易用能够确定金属镀层厚度的电化学分析方法。这个方法主要应用于检查电镀层的质量，现在也适用于监控印刷线路板剩余纯锡的厚度。

Couloscope CMS2电位差台式测厚仪*现货 CouloScope CMS（库仑测量系统）使用库仑方法测量镀层厚度。新的设计中配备了一个大的，易读取的液晶显示器，直观的菜单指引系统，新的可以通过泵控制自动注液和清空测量槽的V18测量台，以及SPC统计能力。该仪器理想的适用于测量几乎所有的金属基材或非金属基材上的金属镀层的厚度，包括多镀层。使用在不能进行或不需要进行非破坏性测试方法的场合。

德国进口DualScope FMP150霍尔效应测厚仪 DualScope FMP150进一步配备了第三种测量原理，即磁性法。它除了采用磁感应法和电涡流法测量涂镀层厚度外，还可以测量非磁性金属底材上镍镀层的厚度。

现货DualScope FMP100测厚仪功能升级款 DUALSCOPE FMP100涂层测厚仪自动识别基材，将两种测量法相结合（磁感应/电涡流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360标准），此通用型设备不仅可以对钢铁上的多种涂层进行测量还可以对非铁金属和非导电基材上的涂层进行测

德国DeltaScope FMP30测厚仪磁感应加强款 DELTASCOPE FMP30用于测量非磁性涂镀层例如：铬、铜、锌、油漆、搪瓷或塑料在铁基材上的厚度。ISOSCOPE FMP30用于测量油漆或塑料在非磁性金属基材上的厚度；用于测量铝基材上阳极氧化层的厚度，也用于测量导电层在非导电基材上的厚度。