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菲希尔 XDL230 X 射线测厚仪是一款专为高精度涂层厚度测量设计的先进设备，在众多行业中发挥着关键作用。

它采用先进的 X 射线技术进行测量。X 射线源发射出特定能量的 X 射线束，当射线束照射到待测样品表面时，部分射线会被涂层和基材吸收与散射。由于不同元素对 X 射线的吸收和散射特性不同，通过探测器检测穿透或散射后的 X 射线强度变化，并结合仪器内置的专业算法，就能精确计算出涂层的厚度。这种测量方式具有的准确性和分辨率，能够检测极薄涂层，甚至达到亚微米级别的精度，为对涂层厚度要求苛刻的应用场景提供可靠数据。

XDL230 X 射线测厚仪测量范围广泛，可适应多种不同材质的涂层与基材组合。无论是金属表面的防腐涂层、电子元件上的绝缘涂层，还是塑料、陶瓷等材料表面的功能性涂层，它都能精准测量。在电子制造行业，可用于测量芯片引脚的镀金层厚度，确保电子连接的可靠性；在汽车制造领域，能精确检测汽车零部件表面的油漆涂层厚度，保障汽车外观质量和耐腐蚀性；在航空航天工业中，对于飞行器关键部件的涂层厚度检测，该仪器凭借高精度，为飞行安全提供有力保障。