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FISCHER代理 X射线测厚仪XULM240产品信息
点击次数：74 更新时间：2026-01-22 打印本页面 返回
菲希尔测厚仪 XULM240核心优势与特点
微型结构测量能力：微聚焦 X 射线管 + 自动切换准直器，可精准测量半导体芯片金线镀层、精密传感器电极、连接器触点等微型结构，最小测量点仅 0.1mm
灵活适配性：电动可变孔径和初级过滤器，可针对不同测量任务创建测量条件；多达四种可变功率设置
高效测量：比例接收器实现高计数率，缩短测量时间，提高检测效率
大样品室设计：尽管仪器紧凑，但提供高达 17cm 的样品高度空间，可测量从微小零件到较大部件的各类样品
智能软件支持：WinFTM® 软件提供直观操作界面、自动校准、数据统计分析、自定义报告等功能，简化工作流程
安全可靠：获得型式批准的防护设备，确保操作安全
