技术文章首页 > 技术文章 > 全部文章
泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO信息
点击次数：80 更新时间：2026-01-19 打印本页面 返回
1. 泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONIC DUO创新分体式设计
显示控制单元与驱动测量单元分离，通过蓝牙实现无线通讯，便于在狭小空间或复杂工件上操作
可组合使用（一体化手持）或分离使用（远程控制测量），满足不同工况需求
2. 极简操作体验
一键测量：单键触发完整测量流程，约5 秒完成循环
无需编程设置，开机即用，几乎不需要操作员培训
2.4 英寸彩色 LCD 显示屏，清晰呈现测量参数、轮廓图形与状态信息
3 个功能键快速切换参数、单位（公制 / 英制），无需重新测量
3. 精准测量系统
耐磨金刚石测针（标准型）+ 高灵敏度压电传感器，捕捉表面微观形貌变化
测量原理：机械位移→电子信号→标准化算法→粗糙度参数，符合ISO 4287标准
内置校准标准，确保长期测量一致性
4. 高效数据管理
结果自动保存至下一次测量，支持Ra、Rz、Rp、Rv、Rt、Rz1max、Rsk、Rq、Rku等多参数显示
红外接口可在1 米距离操作，提升使用便利性
可通过 USB 充电与数据传输
充电电池支持至少 5,000 次测量，满足全天工作需求
