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泰勒霍普森粗糙度仪PK-01测针信息
点击次数：41 更新时间：2025-08-01 打印本页面 返回
泰勒·霍普森（Taylor Hobson）作为精密测量领域者，开发了一系列高精度测针，以满足不同工业应用中的复杂测量需求。其中，PK-01小孔测针专为端条件下的精密测量而设计，特别适用于测量小孔、沟槽以及狭窄或难以接触的表面。
PK-01小孔测针主要特点：
超细测针端：提供测针半径低至 2μm 的版本，能够深入微小孔洞和狭缝，实现纳米级精度测量。
深孔测量能力：具备测量深达70mm的孔深能力，适用于深孔粗糙度或轮廓检测。
灵活的测量配置：
配备50mm长测针升降装置，便于调节测针位置。
支持直角附件，可在空间受限的环境中进行横向或垂直测量。
测针支持翻转向上测量，适应倒置或复杂几何表面的检测需求。
稳定支撑系统：采用防滑V型脚架设计，确保仪器在光滑或弯曲表面上依然保持稳定，无需额外夹具或昂贵的支撑工装。
全表面适应性：可在任意表面和不同高度进行测量，极大提升了现场检测的灵活性和效率。
标准配置包含：
显示单元
112-1502 标准测针
测针连接线
多刻线样板（用于校准和验证）
测针提升机构
USB接口充电器
使用手册
USB通讯电缆
仪器箱（便于携带和?；ど璞?/p>
