技术文章首页 > 技术文章 > 全部文章
XDL230菲希尔X射线荧光测厚仪信息
点击次数：28 更新时间：2025-08-01 打印本页面 返回
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 是普遍适用的能量色散 X 射线测量仪器。它们特别适用于薄涂层的无损厚度测量和分析、批量生产的零件和印刷电路板的测量以及溶液分析。这些仪器非常适合质量保证、来料检验和过程控制方面的测量。
典型应用领域：
• 电镀量产零件的测量 • 薄涂层的检测，例如装饰性镀铬 • 电子和半导体行业功能涂层的分析 • 自动测量，例如印刷电路板 • 电镀中的溶液分析 出色的精度和长期稳定性是所有 FISCHERSCOPE X-RAY 系统的特点。重新校准的必要性大大减少，节省了时间和精力。通过使用比例计数管实现高计数率，可以进行精确测量。FISCHER 的基本参数方法允许分析固体和液体样品以及涂层系统，无需校准。
XDL230测厚仪能量色散 X 射线荧光测量仪 （EDXRF） 用于确定薄可手动作的 XY 平台，电机驱动的 Z 轴
